AI测试面临四大核心瓶颈:
- 电源通道稳定性:AI训练芯片TDP千瓦级别,电流从50A瞬拉800A,di/dt极高。测试机电源通道寄生电感若仅0.5nH,即可造成53%电压跌落,导致良率崩盘。
- 数字通道同步性:4000+数字通道需在皮秒级保持绝对同步,背板走线差几厘米即导致向量时序错位,"4096通道"易沦为"各自为政"。
- ATPG向量下载效率:ATPG向量动辄数十G,传统"PC内存+硬盘"架构下载一次停顿数秒,TestTime从30秒飙至8分钟,封测厂成本模型被击穿。
- PAM4及更高速率测试需求:PAM4已量产,224G下一代在即,需更高精度测试方案。
核心观点:天风电子从"功率模拟老兵"转型为"AI测试领军",具备全链条解决方案能力,是唯一王者,具备3倍增长潜力。