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日联科技PCB光通信半导体测试重大预期差标的持续推荐背

2026-06-05 未知机构 CS杨林
报告封面

#背钻工艺已成为高端高多层PCB核心加工工序,正加速从抽检向在线全检过度,xray可检测层间分层、微孔堵塞、焊盘偏移、孔壁镀层空洞等,公司客户涵盖胜宏(25年12月进入)、鹏鼎、景旺等,保守预计明年10e+订单。 #菲莱光通信+逻辑器件+存储赛道齐头并进。 拳头产品涵盖CoC老化测试、晶圆测试系统等,同时储备 日联科技:PCB+光通信+半导体测试重大预期差标的,持续推荐 #背钻工艺已成为高端高多层PCB核心加工工序,正加速从抽检向在线全检过度,xray可检测层间分层、微孔堵塞、焊盘偏移、孔壁镀层空洞等,公司客户涵盖胜宏(25年12月进入)、鹏鼎、景旺等,保守预计明年10e+订单。 #菲莱光通信+逻辑器件+存储赛道齐头并进。 拳头产品涵盖CoC老化测试、晶圆测试系统等,同时储备硅光晶圆测试、耦合环节等产品。 光通信客户覆盖源杰、仕佳、Lumentum等,逻辑器件客户涵盖伟测科技、甬矽科技。 在手订单爆发式增长。 #SSTI与日联双方在技术+产能+客户渠道深度协同,成立合资公司赛美康,形成半导体“物理缺陷检测+功能检测分析”布局,SSTI加速导入国内市场,已对接逻辑与存储客户。