2.5D封装的核心在于通过硅中介层(Interposer) 实现多芯片并列集成,而中介层的制造依赖硅通孔(TSV)工艺,需在硅片上制作高密度、深宽比大的垂直通孔,对刻蚀精度、绝缘层沉积和金属填充技术要求极高 【1】 【4】 。例如,2.5D封装中TSV需贯穿整个中介层,涉及高深宽比刻蚀、电镀铜填充等前道级工艺,良率控制难度显著高于传统封装 【4】 。此外,转接板(如硅转接板、玻璃转接板)的材料选择、布线设计(RDL)及热管理能力,直接影响信号传输效率和可靠性,进一步抬高技术门槛 【8】 。
2.5D封装需实现芯片间的高密度电气连接,传统微凸块(Microbump)技术在互连节距(Pitch)缩小至10-20μm时面临“互连密度墙”,难以满足AI、HPC等场景对带宽和功耗的需求 【5】 。因此,混合键合(Hybrid Bonding)等新技术成为突破方向,但其需实现纳米级对准精度和原子级键合强度,对设备精度、表面处理工艺(如化学机械抛光CMP)要求严苛,目前仅少数头部企业掌握成熟量产能力 【4】 。
2.5D封装涉及晶圆级加工(如中介层制造)与封装组装的深度协同,而CoW(Chip on Wafer)等关键工艺与前道晶圆制造技术高度相关,需要企业具备前道光刻、刻蚀等工艺积累 【2】 。代工厂(如台积电)凭借前道晶圆加工优势,在2.5D封装技术布局上更具前瞻性,而传统封测厂(OSAT)需突破前道工艺壁垒,才能实现技术追赶 【2】 。
2.5D封装对材料(如低损耗介电材料、高导热基板)和设备(如高精度键合机、TSV刻蚀设备)的性能要求极高,目前高端材料和设备主要由美、日、欧企业主导,国内企业在材料纯度、设备精度等方面仍存在差距,供应链自主可控难度较大 【4】 【8】 。
综上,2.5D先进封装的技术壁垒集中在TSV/转接板制造、高密度互连技术、跨工艺协同及供应链依赖等方面,需企业在工艺研发、设备投入和技术整合上长期积累 【1】 【4】 【8】 。
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