IEA-PVPS T13-02:2014 研报探讨了薄膜光伏技术的性能表征问题,重点关注了室内模拟器和室外测试设施中的性能测量。报告首先回顾了使用太阳模拟器进行室内性能表征的现有研究,指出薄膜技术由于物理特性与传统晶硅技术的差异,导致性能测量结果存在较大差异。主要问题包括:不同薄膜技术存在暂态变化和退火效应,需要特殊的稳定化方法;室内测量中存在光谱失配问题,需要校正模拟器光谱与标准光谱之间的差异;部分薄膜技术存在电容现象,导致测量结果受扫描时间影响。报告建议使用偏置电压来改善稳定化方法,并通过实验验证了其有效性。
报告随后讨论了室外性能分析,指出不同薄膜技术在光谱响应、温度系数和暂态行为方面存在差异,导致室外性能分析面临特殊挑战。报告提出了一种新的分析方法,通过收集和分析来自多个国际合作伙伴的现场数据,比较不同地点和不同技术的性能特征。研究结果表明,单晶硅模块的效率随太阳光谱平均波长增加而降低,而薄膜技术的效率趋势则更为复杂,受多种因素影响。最后,报告介绍了使用模拟光谱的方法来分析光谱对室外性能的影响,并通过与测量数据的比较验证了该方法的有效性。